瞻芯电子· 2025-12-12 08:00(北京时间) ·重要度 10

瞻芯电子G2 650V SiC MOSFET鲁棒性试验,探索产品寿命潜力 瞻芯电子共对2156颗SiC MOSFET样本进行长达3500小时的极限应力测试,基于经典寿命模型预测器件寿命可达数百年(典型条件),远超瞻芯电子对车规级产品加严设定的18年寿命标准 查看详情

汽车电子 瞻芯电子 中文
本站仅提供摘要,完整内容请阅读原文(版权归原媒体所有)
https://www.inventchip.com.cn/xwzx/Info/10741
阅读原文 ↗